英國國立物理研究所Piers Turner課題組–超聲法原位控制石墨烯片的尺寸
超聲波法廣泛用于剝離二維(2D)范德瓦爾斯層狀材料(比如石墨烯)。其基本機制很難解釋,往往被忽視,超聲波這一策略導致低剝落率,低的合成產(chǎn)量和片尺寸分布不均勻,因此通過超聲剝離獲得石墨烯這一方式缺少經(jīng)濟可行性。這里,我們在超聲波處理過程中,通過優(yōu)化慣性空化劑量在三小時內(nèi)可實現(xiàn)高達18%的數(shù)層石墨烯產(chǎn)率。我們證明了超聲空化優(yōu)先剝離較大的薄片,這與石墨烯剝離速率和薄片維度有很大關系,因此可以通過慣性空化劑量來進行調(diào)控。此外,超聲空化優(yōu)先剝離較大的薄片的話,這導致剝落速率隨著超聲時間增加而減小。這種方法的未來發(fā)展方向應該會引導開發(fā)基于2D范德瓦爾斯層狀納米材料的高容量液流電池產(chǎn)生。
(a) 空化氣泡的生長和坍塌響應于施加的聲場和相關的壓力波示意圖,(b) 國家物理實驗室的17-升多頻率空化容器(周圍有傳感器)的光學照片,(c)產(chǎn)生于穩(wěn)定和慣性空化的空化信號頻譜,(d)Ecav和石墨烯產(chǎn)率與前置放大器電壓的函數(shù)關系
(a)石墨烯產(chǎn)率與ICD的函數(shù)關系,插圖為ICD的平方根,(b)石墨烯剝離速率與ICD的平方根的函數(shù)關系,(c)石墨烯長度和,(d)厚度分布的對數(shù)正態(tài)分布曲線。
石墨烯的平均(a)長度和(b)厚度與ICD的函數(shù)關系,石墨烯平均(c)長度和(d)厚度與其產(chǎn)率的函數(shù)關系,石墨烯剝離速率與(e)平均石墨烯長度和(f)石墨烯厚度的函數(shù)關系
(a)ICD范圍內(nèi)極大值和極小值時產(chǎn)生的石墨烯的標準化Raman譜,(b)ID/IG比例與ICD平方根的函數(shù)關系。
該研究工作由英國國立物理研究所Piers Turner課題組于2019年發(fā)表在Scientific Reports期刊上。原文:Controlled sonication as a Route to?in-situ Graphene Flake size Control(https://doi.org/10.1038/s41598-019-45059-5)
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